Перейти к основному содержанию
Библиотечно-издательский комплекс СФУ
Toggle navigation
Ресурсы
Библиотечный поиск
Каталог изданий университета
Университетские информационные ресурсы
Российские информационные ресурсы
Мировые информационные ресурсы
Периодические издания
Тематические путеводители
Книгообеспеченность учебного процесса
Приобретение литературы
Читателю
Регистрация читателей
Получение и возврат литературы
Межбиблиотечный абонемент
Тематические путеводители
Обучение работе с ресурсами
Доступная среда библиотеки
Детская развивающая площадка
Подарить книгу библиотеке
Автору
Правила издания рукописей
План выпуска изданий
Размещение публикаций в библиотеке, репозитории, РИНЦ
Проверка
журнала
Служба поддержки публикационной
активности
Учёт публикаций в АИС
«Прометей»
Услуги
Справочник услуг и сервисов БИК
Новая заявка на услугу
Бронирование помещений
Контакты
Адреса и режим работы
Контакты
Вопрос-Ответ
Отправить отзыв
Ещё
О Научной библиотеке
Об Издательстве
Дилерство «САБ ИРБИС»
Красноярский ИРБИС-клуб
Литературный клуб «Высокий берег»
Подкаст «Пища для ума»
Вакансии
Часто задаваемые вопросы
Мобильное приложение
Карта сайта и поиск по сайту
Онлайн-медиа Научной библиотеки
Личный кабинет
Главная
Ресурсы
Библиотечный поиск
Sparse ab initio
x-ray transmission
spectrotomography for
nanoscopic
compositional
analysis of
functional materials
Zirui Gao
Michal Odstrčil
Sebastian Böcklein
2021 год
Sparse ab initio x-ray transmission spectrotomography for nanoscopic compositional analysis of functional materials
статья из журнала
Полный текст
Страница публикации
Публикация в OpenAlex
Аннотация:
We developed a spectro-nanotomography method that enables fast chemical characterization of functional materials.
Год издания:
2021
Авторы:
Zirui Gao
,
Michal Odstrčil
,
Sebastian Böcklein
,
Dennis Palagin
,
Mirko Holler
,
Darío Ferreira Sánchez
,
Frank Krumeich
,
Andreas Menzel
,
Marco Stampanoni
,
Gerhard Mestl
,
Jeroen A. van Bokhoven
,
Manuel Guizar‐Sicairos
,
Johannes Ihli
Издательство:
American Association for the Advancement of Science
Источник:
Science Advances
Ключевые слова:
X-ray Diffraction in Crystallography, X-ray Spectroscopy and Fluorescence Analysis, Nuclear Physics and Applications
Другие ссылки:
Science Advances
(HTML)
Repository for Publications and Research Data (ETH Zurich)
(PDF)
Repository for Publications and Research Data (ETH Zurich)
(HTML)
DORA PSI (Paul Scherrer Institute)
(PDF)
DORA PSI (Paul Scherrer Institute)
(HTML)
PubMed Central
(HTML)
Показать дополнительные сведения
DOI:
https://doi.org/10.1126/sciadv.abf6971
Открытый доступ:
gold
Том:
7
Выпуск:
24