Перейти к основному содержанию
Библиотечно-издательский комплекс СФУ
Toggle navigation
Ресурсы
Библиотечный поиск
Каталог изданий университета
Университетские информационные ресурсы
Российские информационные ресурсы
Мировые информационные ресурсы
Периодические издания
Тематические путеводители
Книгообеспеченность учебного процесса
Приобретение литературы
Читателю
Регистрация читателей
Получение и возврат литературы
Межбиблиотечный абонемент
Тематические путеводители
Обучение работе с ресурсами
Доступная среда библиотеки
Детская развивающая площадка
Подарить книгу библиотеке
Автору
Правила издания рукописей
План выпуска изданий
Размещение публикаций в библиотеке, репозитории, РИНЦ
Проверка
журнала
Служба поддержки публикационной
активности
Учёт публикаций в АИС
«Прометей»
Услуги
Справочник услуг и сервисов БИК
Новая заявка на услугу
Бронирование помещений
Контакты
Адреса и режим работы
Контакты
Вопрос-Ответ
Отправить отзыв
Ещё
О Научной библиотеке
Об Издательстве
Дилерство «САБ ИРБИС»
Красноярский ИРБИС-клуб
Литературный клуб «Высокий берег»
Подкаст «Пища для ума»
Вакансии
Часто задаваемые вопросы
Мобильное приложение
Карта сайта и поиск по сайту
Онлайн-медиа Научной библиотеки
Личный кабинет
Главная
Ресурсы
Библиотечный поиск
Progress in VLSI
Design and Test
Hafizur Rahaman
Sanatan Chattopadhyay
Santanu Chattopadhyay
2012 год
Progress in VLSI Design and Test
книга
Полный текст
Страница публикации
Публикация в OpenAlex
Год издания:
2012
Авторы:
Hafizur Rahaman
,
Sanatan Chattopadhyay
,
Santanu Chattopadhyay
Издательство:
Springer Science+Business Media
Источник:
Lecture notes in computer science
Ключевые слова:
Integrated Circuits and Semiconductor Failure Analysis, VLSI and Analog Circuit Testing, Engineering and Test Systems
Другие ссылки:
Lecture notes in computer science
(HTML)
Library Union Catalog of Bavaria, Berlin and Brandenburg (B3Kat Repository)
(PDF)
Library Union Catalog of Bavaria, Berlin and Brandenburg (B3Kat Repository)
(HTML)
Показать дополнительные сведения
DOI:
https://doi.org/10.1007/978-3-642-31494-0
Открытый доступ:
closed