Перейти к основному содержанию
Библиотечно-издательский комплекс СФУ
Toggle navigation
Ресурсы
Библиотечный поиск
Каталог изданий университета
Университетские информационные ресурсы
Российские информационные ресурсы
Мировые информационные ресурсы
Периодические издания
Тематические путеводители
Книгообеспеченность учебного процесса
Приобретение литературы
Читателю
Регистрация читателей
Получение и возврат литературы
Межбиблиотечный абонемент
Тематические путеводители
Обучение работе с ресурсами
Доступная среда библиотеки
Детская развивающая площадка
Подарить книгу библиотеке
Автору
Правила издания рукописей
План выпуска изданий
Размещение публикаций в библиотеке, репозитории, РИНЦ
Проверка
журнала
Служба поддержки публикационной
активности
Учёт публикаций в АИС
«Прометей»
Услуги
Справочник услуг и сервисов БИК
Новая заявка на услугу
Бронирование помещений
Контакты
Адреса и режим работы
Контакты
Вопрос-Ответ
Отправить отзыв
Ещё
О Научной библиотеке
Об Издательстве
Дилерство «САБ ИРБИС»
Красноярский ИРБИС-клуб
Литературный клуб «Высокий берег»
Подкаст «Пища для ума»
Вакансии
Часто задаваемые вопросы
Мобильное приложение
Карта сайта и поиск по сайту
Онлайн-медиа Научной библиотеки
Личный кабинет
Главная
Ресурсы
Библиотечный поиск
p-Type ZnO Thin Films
Formed by CVD
Reaction of
Diethylzinc and NO
Gas
X. Li
Yanfa Yan
T. A. Gessert
2003 год
p-Type ZnO Thin Films Formed by CVD Reaction of Diethylzinc and NO Gas
статья из журнала
Страница публикации
Публикация в OpenAlex
Аннотация:
We discuss the use of nitric oxide (NO) gas to dope ZnO p-type films, fabricated using metallorganic chemical vapor deposition (CVD) reaction of a Zn metallorganic precursor and NO gas. In this reaction, NO gas is used to supply both O and N to form a N-doped ZnO (ZnO:N) film. Auger electron spectroscopy analysis indicated that, under Zn-rich condition, the N concentration in the film is readily detectable, with the highest concentration being atom %. For concentrations greater than 2 atom %, the films are p-type. The carrier concentration varies from to and the mobility is approximately The minimum film resistivity achieved is © 2003 The Electrochemical Society. All rights reserved.
Год издания:
2003
Авторы:
X. Li
,
Yanfa Yan
,
T. A. Gessert
,
Clay DeHart
,
Craig L. Perkins
,
David L. Young
,
T. J. Coutts
Издательство:
Electrochemical Society
Источник:
Electrochemical and Solid-State Letters
Ключевые слова:
ZnO doping and properties, Copper-based nanomaterials and applications, Gas Sensing Nanomaterials and Sensors
Показать дополнительные сведения
DOI:
https://doi.org/10.1149/1.1554292
Открытый доступ:
closed
Том:
6
Выпуск:
4
Страницы:
C56–C56