1. Главная
  2. Ресурсы
  3. Библиотечный поиск
Force-distance curvesby atomic forcemicroscopy Brunero CappellaGiovanni Dietler1999 год

Force-distance curves by atomic force microscopy
статья из журнала

Полный текстСтраница публикацииПубликация в OpenAlex
Год издания: 1999
Авторы: Brunero Cappella, Giovanni Dietler
Издательство: Elsevier BV
Источник: Surface Science Reports
Ключевые слова: Force Microscopy Techniques and Applications, Mechanical and Optical Resonators, Molecular Junctions and Nanostructures
Другие ссылки: Surface Science Reports (HTML)
Infoscience (Ecole Polytechnique Fédérale de Lausanne) (PDF)
Infoscience (Ecole Polytechnique Fédérale de Lausanne) (HTML)