Перейти к основному содержанию
Библиотечно-издательский комплекс СФУ
Toggle navigation
Ресурсы
Библиотечный поиск
Каталог изданий университета
Университетские информационные ресурсы
Российские информационные ресурсы
Мировые информационные ресурсы
Периодические издания
Тематические путеводители
Книгообеспеченность учебного процесса
Приобретение литературы
Читателю
Регистрация читателей
Получение и возврат литературы
Межбиблиотечный абонемент
Тематические путеводители
Обучение работе с ресурсами
Доступная среда библиотеки
Детская развивающая площадка
Подарить книгу библиотеке
Автору
Правила издания рукописей
План выпуска изданий
Размещение публикаций в библиотеке, репозитории, РИНЦ
Проверка
журнала
Служба поддержки публикационной
активности
Учёт публикаций в АИС
«Прометей»
Услуги
Справочник услуг и сервисов БИК
Новая заявка на услугу
Бронирование помещений
Контакты
Адреса и режим работы
Контакты
Вопрос-Ответ
Отправить отзыв
Ещё
О Научной библиотеке
Об Издательстве
Дилерство «САБ ИРБИС»
Красноярский ИРБИС-клуб
Литературный клуб «Высокий берег»
Подкаст «Пища для ума»
Вакансии
Часто задаваемые вопросы
Мобильное приложение
Карта сайта и поиск по сайту
Онлайн-медиа Научной библиотеки
Личный кабинет
Главная
Ресурсы
Библиотечный поиск
Theoretical Analysis
of Nano-scale Imaging
by Ion Conductance
Microscopy
Samantha J.L. Lee
Eero Willman
David Klenerman
2009 год
Theoretical Analysis of Nano-scale Imaging by Ion Conductance Microscopy
статья из журнала
Полный текст
Страница публикации
Публикация в OpenAlex
Год издания:
2009
Авторы:
Samantha J.L. Lee
,
Eero Willman
,
David Klenerman
,
F.A. Fernández
,
Guy W. J. Moss
Издательство:
Elsevier BV
Источник:
Biophysical Journal
Ключевые слова:
Electrochemical Analysis and Applications, Force Microscopy Techniques and Applications, Analytical Chemistry and Sensors
Показать дополнительные сведения
DOI:
https://doi.org/10.1016/j.bpj.2008.12.3374
Открытый доступ:
bronze
Том:
96
Выпуск:
3
Страницы:
638a–638a