Перейти к основному содержанию
Библиотечно-издательский комплекс СФУ
Toggle navigation
Ресурсы
Библиотечный поиск
Каталог изданий университета
Университетские информационные ресурсы
Российские информационные ресурсы
Мировые информационные ресурсы
Периодические издания
Тематические путеводители
Книгообеспеченность учебного процесса
Приобретение литературы
Читателю
Регистрация читателей
Получение и возврат литературы
Межбиблиотечный абонемент
Тематические путеводители
Обучение работе с ресурсами
Доступная среда библиотеки
Детская развивающая площадка
Подарить книгу библиотеке
Автору
Правила издания рукописей
План выпуска изданий
Размещение публикаций в библиотеке, репозитории, РИНЦ
Проверка
журнала
Служба поддержки публикационной
активности
Учёт публикаций в АИС
«Прометей»
Услуги
Справочник услуг и сервисов БИК
Новая заявка на услугу
Бронирование помещений
Контакты
Адреса и режим работы
Контакты
Вопрос-Ответ
Отправить отзыв
Ещё
О Научной библиотеке
Об Издательстве
Дилерство «САБ ИРБИС»
Красноярский ИРБИС-клуб
Литературный клуб «Высокий берег»
Подкаст «Пища для ума»
Вакансии
Часто задаваемые вопросы
Мобильное приложение
Карта сайта и поиск по сайту
Онлайн-медиа Научной библиотеки
Личный кабинет
Главная
Ресурсы
Библиотечный поиск
SIMS analysis of
volatiles in silicate
glasses, 2: isotopes
and abundances in
Hawaiian melt
inclusions
E. H. Hauri
2002 год
SIMS analysis of volatiles in silicate glasses, 2: isotopes and abundances in Hawaiian melt inclusions
статья из журнала
Страница публикации
Публикация в OpenAlex
Год издания:
2002
Авторы:
E. H. Hauri
Издательство:
Elsevier BV
Источник:
Chemical Geology
Ключевые слова:
Geological and Geochemical Analysis, High-pressure geophysics and materials, earthquake and tectonic studies
Показать дополнительные сведения
DOI:
https://doi.org/10.1016/s0009-2541(01)00374-6
Открытый доступ:
closed
Том:
183
Выпуск:
1-4
Страницы:
115–141