1. Главная
  2. Ресурсы
  3. Библиотечный поиск
Ion electron emissionmicroscopy at theSIRAD single eventeffect facility D. BiselloA. KaminskyA. Magalini2001 год

Ion electron emission microscopy at the SIRAD single event effect facility
статья из журнала

Полный текстСтраница публикацииПубликация в OpenAlex
Год издания: 2001
Авторы: D. Bisello, A. Kaminsky, A. Magalini, M. Nigro, D. Pantano, S. Sedykh, J. Wyss
Издательство: Elsevier BV
Источник: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B Beam Interactions with Materials and Atoms
Ключевые слова: Ion-surface interactions and analysis, Integrated Circuits and Semiconductor Failure Analysis, Radiation Effects in Electronics
Другие ссылки: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B Beam Interactions with Materials and Atoms (HTML)
INFM-OAR (INFN Catania) (PDF)
INFM-OAR (INFN Catania) (HTML)