Перейти к основному содержанию
Библиотечно-издательский комплекс СФУ
Toggle navigation
Ресурсы
Библиотечный поиск
Каталог изданий университета
Университетские информационные ресурсы
Российские информационные ресурсы
Мировые информационные ресурсы
Периодические издания
Тематические путеводители
Книгообеспеченность учебного процесса
Приобретение литературы
Читателю
Регистрация читателей
Получение и возврат литературы
Межбиблиотечный абонемент
Тематические путеводители
Обучение работе с ресурсами
Доступная среда библиотеки
Детская развивающая площадка
Подарить книгу библиотеке
Автору
Правила издания рукописей
План выпуска изданий
Размещение публикаций в библиотеке, репозитории, РИНЦ
Проверка
журнала
Служба поддержки публикационной
активности
Учёт публикаций в АИС
«Прометей»
Услуги
Справочник услуг и сервисов БИК
Новая заявка на услугу
Бронирование помещений
Контакты
Адреса и режим работы
Контакты
Вопрос-Ответ
Отправить отзыв
Ещё
О Научной библиотеке
Об Издательстве
Дилерство «САБ ИРБИС»
Красноярский ИРБИС-клуб
Литературный клуб «Высокий берег»
Подкаст «Пища для ума»
Вакансии
Часто задаваемые вопросы
Мобильное приложение
Карта сайта и поиск по сайту
Онлайн-медиа Научной библиотеки
Личный кабинет
Главная
Ресурсы
Библиотечный поиск
Multitone
curve‐fitting
algorithms for
communication
application ADC
testing
Yoshito Motoki
Hidetake Sugawara
Haruo Kobayashi
2003 год
Multitone curve‐fitting algorithms for communication application ADC testing
статья из журнала
Страница публикации
Публикация в OpenAlex
Аннотация:
Abstract This paper describes multitone curve‐fitting algorithms for accurate determination of intermodulation distortion products in the multitone testing of ADCs used in communication applications and the like. Accuracy of our curve‐fitting algorithms for coherent sampling (input frequencies known) and incoherent sampling (input frequencies unknown) was validated by numerical simulations. We found that—especially for incoherent sampling—these algorithms provide better accuracy than conventional (single‐tone) curve‐fitting algorithms. © 2003 Wiley Periodicals, Inc. Electron Comm Jpn Pt 2, 86(8): 1–11, 2003; Published online in Wiley InterScience ( www.interscience.wiley.com ). DOI 10.1002/ecjb.10148
Год издания:
2003
Авторы:
Yoshito Motoki
,
Hidetake Sugawara
,
Haruo Kobayashi
,
Takanori Komuro
,
Hiroshi Sakayori
Издательство:
Wiley
Источник:
Electronics and Communications in Japan (Part II Electronics)
Ключевые слова:
Integrated Circuits and Semiconductor Failure Analysis, VLSI and Analog Circuit Testing, Electrostatic Discharge in Electronics
Показать дополнительные сведения
DOI:
https://doi.org/10.1002/ecjb.10148
Открытый доступ:
closed
Том:
86
Выпуск:
8
Страницы:
1–11