1. Главная
  2. Ресурсы
  3. Библиотечный поиск
Thermal damage in SiCSchottky diodesinduced by SE heavyions C. AbbateG. BusattoP. Cova2014 год

Thermal damage in SiC Schottky diodes induced by SE heavy ions
статья из журнала

Страница публикацииПубликация в OpenAlex
Год издания: 2014
Авторы: C. Abbate, G. Busatto, P. Cova, Nicola Delmonte, F. Giuliani, Francesco Iannuzzo, A. Sanseverino, F. Velardi
Издательство: Elsevier BV
Источник: Microelectronics Reliability
Ключевые слова: Integrated Circuits and Semiconductor Failure Analysis, Electrostatic Discharge in Electronics, Silicon Carbide Semiconductor Technologies