1. Главная
  2. Ресурсы
  3. Библиотечный поиск
  4. Журнал «Успехи современной радиоэлектроники»
  5. Выпуск 2021 г. Том 75. № 12
Статистико-физическийанализ надежностиизделийрадиоэлектроники наоснове смесираспределений Гродзенский С. Я.Гродзенский Я. С.Марещенков П. В.2021 год

Статистико-физический анализ надежности изделий радиоэлектроники на основе смеси распределений
статья из журнала

Заказать копию статьи
База данных: Каталог библиотеки СФУ (Г 863)
Библиографическое описание: Гродзенский, С. Я. Статистико-физический анализ надежности изделий радиоэлектроники на основе смеси распределений / С. Я. Гродзенский, Я. С. Гродзенский, П. В. Марещенков. - Текст : : непосредственный // Успехи современной радиоэлектроники. - 2021. - Т. 75, № 12. - С. 63-68 : 3 рис. - Библиогр.: с. 67 (5 назв. ). - Заглавие, авторы, аннотация, библиография на английском языке приведены в конце статьи. - ISSN 2070-0784.
Аннотация: Постановка проблемы. Оценка надежности изделий остается актуальной задачей, особенно если речь идет об изделиях радиоэлектроники (ИРЭ), выпускаемых малыми партиями, когда традиционные методы математической статистики оказываются малоэффективными. В этом случае целесообразно использовать методы, сочетающие статистические и физические подходы. Например, статистико-физический метод, когда по виду и значениям параметров распределения моментов наступления отказов изделия высказывается предположение о его возможных причинах. Цель. Рассмотреть возможность статистико-физического анализа надежности ИРЭ с использованием смесей различных распределений для описания временной зависимости интенсивности отказов. Результаты. Обоснован статистико-физический анализ надежности ИРЭ на основе модели, описываемой смесью распределений экспоненциального и Вейбулла. Приведены примеры использования предложенного метода на конкретных ИРЭ. Практическая значимость. Статистико-физический анализ на основе смеси распределений помогает выявить дефект приборов, эксплуатируемых на труднодоступном объекте, при известном значении наработки на отказ и внешнем проявлении неисправности.
Год издания: 2021
Авторы: Гродзенский С. Я. , Гродзенский Я. С. , Марещенков П. В.
Источник: Успехи современной радиоэлектроники
Выпуск: Т. 75, № 12
Номера страниц: 63-68
Количество экземпляров:
  • Читальный зал военных наук (Академгородок, 13А, к. 1-01): свободно 1 из 1 экземпляров