Рентгенофлуоресцентный анализ состава тонких покрытий с использованием метода фундаментальных параметровстатья из журнала
Похожие публикации
Математическое моделирование взаимного влияния элементов методом фундаментальных параметров при…
- Курочкин В. Д. и др.
- 2020 год
Комбинированные методы анализа возвратного металлсодержащего сырья (обзор)
- Доронина М. С. и др.
- 2016 год
Синтез тонких пленок на основе ZnO, допированных Ga, In, и определение их состава методами…
- Филатова Д. Г. и др.
- 2016 год
Определение цветности спиртных напитков с использованием спектрофотометрического метода анализа
- Абрамова Ирина Михайловна и др.
- 2015 год
Определение форм нахождения ванадия, железа и марганца в образцах шлака и шихты ванадиевого…
- Жданов П. А. и др.
- 2016 год
Рентгенофлуоресцентный анализ ванадиевого шлака после боратного сплавления
- Волков А. И. и др.
- 2016 год
Определение форм нахождения элементов в образцах шлака и шлама ванадиевого производства
- Жданов П. А. и др.
- 2015 год
Метод контроля состава тонких пленок на основе смеси полигидроксибутирата и полиамида
- Ольхов А. А. и др.
- 2016 год
Разработка методик анализа и стандартных образцов палладиево-вольфрамовых сплавов
- Лисиенко М. Д. и др.
- 2016 год
Осторожно - некорректные подходы к анализу данных или об использовании непараметрических методов…
- Козлов М. В. и др.
- 2012 год
Современное состояние и проблемы определения высоких содержаний серебра в сплавах и изделиях
- Гольдштрах М. А. и др.
- 2017 год
Рентгеноспектральное определение золота в геологических пробах после его концентрирования с…
- Симаков В. А. и др.
- 2015 год
Анализ проб с неизвестной матрицей с использованием алгоритмов Data Mining
- Молчанова Е. И. и др.
- 2016 год