1. Главная
  2. Ресурсы
  3. Библиотечный поиск
  4. Журнал «Заводская лаборатория. Диагностика материалов»
  5. Выпуск 2016 г. Том 82. № 2
Метод изготовленияметаллографическихшлифов для дифракцииобратнорассеянныхэлектронов Завдовеев А. В.Пашинская Е. Г.Варюхин В. Н.2016 год

Метод изготовления металлографических шлифов для дифракции обратнорассеянных электронов
статья из журнала

Заказать копию статьи
База данных: Каталог библиотеки СФУ (М 545)
Библиографическое описание: Метод изготовления металлографических шлифов для дифракции обратнорассеянных электронов / А. В. Завдовеев [и др.]. - (Исследование структуры и свойств) (Физические методы исследования и контроля). - Текст : непосредственный // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2016. - Т. 82, № 2. - С. 32-35. - Библиогр.: с. 35 (6 назв. ). - ISSN 1028-6861.
Аннотация: Предложен новый метод изготовления металлографических шлифов для проведения экспериментов по дифракции обратнорассеянных электронов в камере сканирующего электронного микроскопа. Метод позволяет проводить холодную заливку металлических образцов в токопроводящий наполнитель для последующей подготовки шлифов и электрополировки.
Год издания: 2016
Авторы: Завдовеев А. В. , Пашинская Е. Г. , Варюхин В. Н. , Бурховецкий В. В. , Верцанова Е. В. , Максакова А. А.
Источник: Заводская лаборатория. Диагностика материалов
Выпуск: Т. 82, № 2
Номера страниц: 32-35
Количество экземпляров:
  • Читальный зал (пер. Вузовский, 6Д): свободно 1 из 1 экземпляров

Похожие публикации

Универсальный способпробоподготовки длямикротекстурного ифазового анализаEBSD-методом Лукашова М. В.2016 год

Универсальный способ пробоподготовки для микротекстурного и фазового анализа EBSD-методом

  • Лукашова М. В.
  • 2016 год
Исследование текстурыи структурымагниевого сплаваМА2-1пч послеравноканально-углового прессования иотжига… Серебряный В. Н.Дьяконов Г. С.Харькова М. А.2016 год

Исследование текстуры и структуры магниевого сплава МА2-1пч после равноканально-углового…

  • Серебряный В. Н. и др.
  • 2016 год
Исследованиевключений оливина всибирских алмазахметодом дифракцииобратнорассеянныхэлектронов Нойзер Р. Д.Шертл Г. -П.Логвинова А. М.2015 год

Исследование включений оливина в сибирских алмазах методом дифракции обратнорассеянных электронов

  • Нойзер Р. Д. и др.
  • 2015 год

Методы современной просвечивающей электронной микроскопии в исследовании материалов

  • Жарков С. М.
  • 2009 год
Применение методацветовогокартирования вметаллографическихисследованияхобразцов послединамическогонагружения Беляев Д. А.Зуев Ю. Н.Лукин А. В.2016 год

Применение метода цветового картирования в металлографических исследованиях образцов после…

  • Беляев Д. А. и др.
  • 2016 год
Применение дифракцииобратно рассеянныхэлектронов ирентгеновскойдифрактометрии дляизучения текстуры Свиридова Т. А.Васильева М. В.Горшенков М. В.2014 год

Применение дифракции обратно рассеянных электронов и рентгеновской дифрактометрии для изучения…

  • Свиридова Т. А. и др.
  • 2014 год
Измерение размеровчастиц твердофазныхоксидов методомлазерной дифракции напримере оксидаалюминия Петрова Е. В.Дресвянников А. Ф.Галиуллина Н. Т.2015 год

Измерение размеров частиц твердофазных оксидов методом лазерной дифракции на примере оксида алюминия

  • Петрова Е. В. и др.
  • 2015 год
Новый методопределения отношениячисла электроновотдачи к числуфотоэлектронов Косьянов П. М.2015 год

Новый метод определения отношения числа электронов отдачи к числу фотоэлектронов

  • Косьянов П. М.
  • 2015 год

Показать ещё

Определение минерального состава озерных донных отложений методами рентгеновской дифракции и…

  • Смелый Р. В. и др.
  • 2019 год
Метод сопровождающегосигнала дляопределения составамногокомпонентных фаз Головкин Б. Г.2016 год

Метод сопровождающего сигнала для определения состава многокомпонентных фаз

  • Головкин Б. Г.
  • 2016 год
Экспресс-методопределения границбывшего аустенитногозерна в сталяхбейнитно-мартенситного класса полокальным… Петров С. Н.Пташник А. В.2019 год

Экспресс-метод определения границ бывшего аустенитного зерна в сталях бейнитно-мартенситного…

  • Петров С. Н. и др.
  • 2019 год

Структурные методы исследования металлов

  • Лапин И. В. и др.
  • 2020 год

Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение

  • Жу У. и др.
  • 2021 год

Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение

  • Жу Уэйли и др.
  • 2025 год
Метод интегральныхуравнений для решениявнутренних задачдифракцииэлектромагнитных волн Данилов И. Н.Майстренко В. К.Новоселова Н. А.2018 год

Метод интегральных уравнений для решения внутренних задач дифракции электромагнитных волн

  • Данилов И. Н. и др.
  • 2018 год

Тепломассообмен

  • Зафатаев В. А.
  • 2025 год