1. Главная
  2. Ресурсы
  3. Библиотечный поиск
  4. Журнал «Заводская лаборатория. Диагностика материалов»
  5. Выпуск 2016 г. Том 82. № 12
Алгоритм расчетатолщины тонкихметаллических пленок Концевой Ю. А.Кондаков М. Н.Петрова И. Г.2016 год

Алгоритм расчета толщины тонких металлических пленок
статья из журнала

Заказать копию статьи
База данных: Каталог библиотеки СФУ (К 652)
Библиографическое описание: Концевой, Ю. А. Алгоритм расчета толщины тонких металлических пленок / Ю. А. Концевой, М. Н. Кондаков, И. Г. Петрова. - (Исследование структуры и свойств) (Физические методы исследования и контроля) (Обмен опытом). - Текст : непосредственный // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2016. - Т. 82, № 12. - С. 41-42. - Библиогр.: с. 42 (4 назв. ). - ISSN 1028-6861.
Аннотация: Показано, что толщину тонких металлических пленок, полученных термическим методом, можно определять с точностью, лучшей, чем 10 А.
Год издания: 2016
Авторы: Концевой Ю. А. , Кондаков М. Н. , Петрова И. Г.
Источник: Заводская лаборатория. Диагностика материалов
Выпуск: Т. 82, № 12
Номера страниц: 41-42
Количество экземпляров:
  • Читальный зал (пер. Вузовский, 6Д): свободно 1 из 1 экземпляров

Похожие публикации

Исследованиеспектрального методаконтроля толщиныполупроводниковых идиэлектрическихпленок Кострин Д. К.2015 год

Исследование спектрального метода контроля толщины полупроводниковых и диэлектрических пленок

  • Кострин Д. К.
  • 2015 год
Синтез тонких пленокна основе ZnO,допированных Ga, In,и определение ихсостава методамирентгеновской… Филатова Д. Г.Воробьева Н. А.Румянцева М. Н.2016 год

Синтез тонких пленок на основе ZnO, допированных Ga, In, и определение их состава методами…

  • Филатова Д. Г. и др.
  • 2016 год
Электрохимическоеполучение тонкихпленок Si в расплавахKF – KCl – KI –K[2]SiF[6] Исаков А. В.Чанг К.Джанг С.2017 год

Электрохимическое получение тонких пленок Si в расплавах KF – KCl – KI – K[2]SiF[6]

  • Исаков А. В. и др.
  • 2017 год
Зондовый методконтроля удельногосопротивления тонкихпленок интегральныхмикросхем прирасположении зондовв… Арешкин А. А.2015 год

Зондовый метод контроля удельного сопротивления тонких пленок интегральных микросхем при…

  • Арешкин А. А.
  • 2015 год
Свойства тонкихпленок сульфидоввольфрама и меди,полученных методоммагнетронногораспыления Ан В. В.Погребенков В. М.Захаров А. Н.2016 год

Свойства тонких пленок сульфидов вольфрама и меди, полученных методом магнетронного распыления

  • Ан В. В. и др.
  • 2016 год
Расчетно-экспериментальная оценка толщиныпокрытия, полученногоэлектроконтактнойприваркойметаллической тканой… Павлов А. П.Наталенко В. С.Латыпов Р. А.2022 год

Расчетно-экспериментальная оценка толщины покрытия, полученного электроконтактной приваркой…

  • Павлов А. П. и др.
  • 2022 год
Современныеультразвуковые методыизмерения толщиныстенок металлическихизделий под защитнымипокрытиями Булатов А. С.Сясько В. А.2018 год

Современные ультразвуковые методы измерения толщины стенок металлических изделий под защитными…

  • Булатов А. С. и др.
  • 2018 год
Метод контролясостава тонких пленокна основе смесиполигидроксибутиратаи полиамида Ольхов А. А.Маркин В. С.Косенко Р. Ю.2016 год

Метод контроля состава тонких пленок на основе смеси полигидроксибутирата и полиамида

  • Ольхов А. А. и др.
  • 2016 год

Показать ещё

Лазерно-акустическаядефектоскопия тонкихметаллических пленок Исмагилов Ильдар РашидовичКалимуллин Рустем ИрековичХасанов Алмаз Алхатович2013 год

Лазерно-акустическая дефектоскопия тонких металлических пленок

  • Исмагилов Ильдар Рашидович и др.
  • 2013 год

Получение осадков и пленок диоксида циркония из уротропиновой системы

  • Туленин С. С. и др.
  • 2026 год
Формированиеполикристаллическихпленок ZnOионно-плазменнымметодом дляМДП-фотоэлектрическихприборов УФ-диапазона Григорьев Леонид ВладимировичБочкарева Елизавета СергеевнаНефедов Вячеслав Григорьевич2015 год

Формирование поликристаллических пленок ZnO ионно-плазменным методом для МДП-фотоэлектрических…

  • Григорьев Леонид Владимирович и др.
  • 2015 год
Метод бесконтактныхизмеренийэлектромагнитныхпараметров тонкихпленок инаноматериалов Скворцов Б. В.Борминский С. А.Солнцева А. В.2016 год

Метод бесконтактных измерений электромагнитных параметров тонких пленок и наноматериалов

  • Скворцов Б. В. и др.
  • 2016 год
Селективный методрасчета параметровизмерительныхдатчиков при контролепротяженных трубэллиптическогосечения Зацепин Н. Н.Зацепин Е. Н.2015 год

Селективный метод расчета параметров измерительных датчиков при контроле протяженных труб…

  • Зацепин Н. Н. и др.
  • 2015 год
Исследованиетеплоемкостиметаллическихматериалов спокрытием методомлазерной вспышки Лощинин Ю. В.Фоломейкин Ю. И.Пахомкин С. И.2015 год

Исследование теплоемкости металлических материалов с покрытием методом лазерной вспышки

  • Лощинин Ю. В. и др.
  • 2015 год
Получениенелегированных илегированных эрбиемтонких пленок оксидаиттрия методомэлектронно-лучевогоиспарения Фатма УналКюршат Казманли2019 год

Получение нелегированных и легированных эрбием тонких пленок оксида иттрия методом электронно…

  • Фатма Унал и др.
  • 2019 год
Диагностика защитныхсвойств оксидныхпленок на внутреннихповерхностяхпаропроводных труб наоснове… Липкина Т. В.Липкин С. М.Козлова Т. В.2015 год

Диагностика защитных свойств оксидных пленок на внутренних поверхностях паропроводных труб на…

  • Липкина Т. В. и др.
  • 2015 год