1. Главная
  2. Ресурсы
  3. Библиотечный поиск
  4. Журнал «Заводская лаборатория. Диагностика материалов»
  5. Выпуск 2016 г. Том 82. № 11
Основной источникслучайнойсоставляющейпогрешностей площадейхроматографическихпиков и егокомпенсация Зенкевич И. Г.Прокофьев Д. В.2016 год

Основной источник случайной составляющей погрешностей площадей хроматографических пиков и его компенсация
статья из журнала

Заказать копию статьи
База данных: Каталог библиотеки СФУ (З-563)
Библиографическое описание: Зенкевич, И. Г. Основной источник случайной составляющей погрешностей площадей хроматографических пиков и его компенсация / И. Г. Зенкевич, Д. В. Прокофьев. - (Анализ вещества). - Текст : непосредственный // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2016. - Т. 82, № 11. - С. 5-11. - Библиогр.: с. 10-11 (20 назв. ). - ISSN 1028-6861.
Аннотация: Разброс площадей хроматографических пиков - основной источник случайной составляющей погрешностей количественного хроматографического анализа. Разброс обусловлен действием нескольких факторов, главным из которых часто являются неконтролируемые частичные потери проб при их дозировании в хроматографическую колонку. Показано, что площади пиков разных компонентов (включая растворитель) одних и тех же образцов коррелируют между собой. Этот факт определяет возможность замены абсолютных площадей пиков определяемых компонентов их отношениями к площадям пиков дополнительных (отличаются от внутренних) стандартов. В качестве таких стандартов, на химическую природу которых принципиально нет ограничений, можно использовать содержащиеся в образцах растворители. Возможности рассматриваемой модификации определения продемонстрированы на примере метода внешнего стандарта. Аналогичный подход может быть реализован в методах стандартной добавки и абсолютной градуировки. В зависимости от разброса экспериментально определяемых площадей пиков степень неопределенности результатов (отношение коэффициентов вариации абсолютных и относительных площадей пиков) уменьшается в 5 - 30 раз.
Год издания: 2016
Авторы: Зенкевич И. Г. , Прокофьев Д. В.
Источник: Заводская лаборатория. Диагностика материалов
Выпуск: Т. 82, № 11
Номера страниц: 5-11
Количество экземпляров:
  • Читальный зал (пер. Вузовский, 6Д): свободно 1 из 1 экземпляров