Электронный каталог библиотеки временно недоступен, поэтому сведения могут отсутствовать, быть неполными или устаревшими.
Послойный анализ кристаллических пластин танталата лития методом масс-спектрометрии с индуктивно-связанной плазмой и лазерным пробоотбором
статья из журнала
База данных:Каталог библиотеки СФУ
Аннотация:Методом масс-спектрометрии с индуктивно-связанной плазмой и лазерной абляцией проведен послойный анализ пластин монокристаллического танталата лития Z-среза (перпендикулярного кристаллографической оси Z), модифицированных методом Vapor Transport Equilibration, с целью установления изменения соотношения Li/Ta. Полученные данные наряду с результатами исследования методами рентгеноструктурного анализа и спектроскопии комбинированного рассеяния позволили подтвердить возникновение областей толщиной от десятков до сотен мкм с различным стехиометрическим составом и существенно уточнить их границы, что важно для дальнейшего формирования доменных структур с целью создания устройств интегральной оптики.
