Библиографическое описание:Дрогобужская, С. В. Послойный анализ кристаллических пластин танталата лития методом масс-спектрометрии с индуктивно-связанной плазмой и лазерным пробоотбором / С. В. Дрогобужская, О. Б. Щербина, А. И. Новиков. - (Анализ вещества). - Текст : непосредственный // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2016. - Т. 82, № 1. - С. 16-21. - Библиогр.: с. 21 (10 назв. ). - ISSN 1028-6861.
Аннотация:Методом масс-спектрометрии с индуктивно-связанной плазмой и лазерной абляцией проведен послойный анализ пластин монокристаллического танталата лития Z-среза (перпендикулярного кристаллографической оси Z), модифицированных методом Vapor Transport Equilibration, с целью установления изменения соотношения Li/Ta. Полученные данные наряду с результатами исследования методами рентгеноструктурного анализа и спектроскопии комбинированного рассеяния позволили подтвердить возникновение областей толщиной от десятков до сотен мкм с различным стехиометрическим составом и существенно уточнить их границы, что важно для дальнейшего формирования доменных структур с целью создания устройств интегральной оптики.
