Библиографическое описание:Орлов, В. И. О технической диагностике качества диодных матриц / В. И. Орлов, Н. А. Сергеева, Е. А. Чжан. - (Математические методы исследования). - Текст : непосредственный // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2015. - Т. 81, № 5. - С. 71-76. - Библиогр.: с. 76 (6 назв. ). - ISSN 1028-6861.
Аннотация:Рассмотрена задача диагностики качества электрорадиоизделий по результатам испытаний неразрушающего контроля. Приведен пример группировки диодных матриц по данным испытаний электротермотренировки. Установлено, что диоды одной матрицы могут быть отнесены к двум группам. Данное заключение позволило оптимизировать ведение технологического процесса изготовления диодов в рамках технологического регламента.
