Библиографическое описание:Ахметханов, Р. С. Применение вейвлет-анализа и теории фракталов в исследовании изображений микрошлифов / Р. С. Ахметханов. - (Исследование структуры и свойств) (Физические методы исследования и контроля). - Текст : непосредственный // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2015. - Т. 81, № 3. - С. 31-37. - Библиогр.: с. 37 (16 назв. ). - ISSN 1028-6861.
Аннотация:Показано применение информационных технологий в механике при анализе изображений микрошлифов. Исследована структура материала по изображению микрошлифов с применением методов теории фракталов (фрактальные оценки) и вейвлет-анализа (кратно-масштабный анализ). Фрактальные оценки и данные, полученные с помощью вейвлет-анализа, позволяют получить количественные характеристики изменений в структуре материала при накоплении повреждений или отличий структуры при различных технологических режимах обработки материалов.
