1. Главная
  2. Ресурсы
  3. Библиотечный поиск
  4. Журнал «Заводская лаборатория. Диагностика материалов»
  5. Выпуск 2015 г. Том 81. № 10
Причина уширениябрэгговскихдифракционных пиков,снятых от шлифованныхповерхностей пластинмонокристаллическогокремния Павлов В. Ф.2015 год

Причина уширения брэгговских дифракционных пиков, снятых от шлифованных поверхностей пластин монокристаллического кремния
статья из журнала

Заказать копию статьи
База данных: Каталог библиотеки СФУ (П 121)
Библиографическое описание: Павлов, В. Ф. Причина уширения брэгговских дифракционных пиков, снятых от шлифованных поверхностей пластин монокристаллического кремния / В. Ф. Павлов. - (Исследование структуры и свойств) (Физические методы исследования и контроля). - Текст : непосредственный // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2015. - Т. 81, № 10. - С. 27-31. - Библиогр.: с. 31 (7 назв. ). - ISSN 1028-6861.
Аннотация: Рассмотрена причина уширения брегговских дифракционных пиков и изменения их интегральной ширины с изменением угла дифракции при дифрактометрической съемке дефектных слоев, образующихся на поверхности пластин при резке монокристаллических слитков кремния и последующей шлифовке. Для расчетов интегральной ширины брегговских дифракционных пиков использована упрощенная модель дефектных слоев, представляющая собой многослойную структуру, каждый слой которой состоит из хаотически линейно смещенных монокристаллических блоков. Предложена формула, объединяющая параметры дефектных слоев с интегральной шириной брегговских дифракционных пиков и шириной области полного отражения.
Год издания: 2015
Авторы: Павлов В. Ф.
Источник: Заводская лаборатория. Диагностика материалов
Выпуск: Т. 81, № 10
Номера страниц: 27-31
Количество экземпляров:
  • Читальный зал (пер. Вузовский, 6Д): свободно 1 из 1 экземпляров

Похожие публикации

Определениеструктурныххарактеристикнанопорошковвольфрама по профилюодного рентгеновскогодифракционного пикапо… Сиротинкин В. П.Михайлова А. Б.Шамрай В. Ф.2014 год

Определение структурных характеристик нанопорошков вольфрама по профилю одного рентгеновского…

  • Сиротинкин В. П. и др.
  • 2014 год
Рентгенографическийметод исследованиямонокристальныхизделий Сидохин Ф. А.Подымский Д. А.Тихомирова Е. А.2014 год

Рентгенографический метод исследования монокристальных изделий

  • Сидохин Ф. А. и др.
  • 2014 год
Оценка предельнодопустимого углаотклонениякристаллографическойплоскости (hkl) отзаданнойгеометрической… Гаврилов К. В.Каневский В. Е.Павлов В. Ф.2016 год

Оценка предельно допустимого угла отклонения кристаллографической плоскости (hkl) от заданной…

  • Гаврилов К. В. и др.
  • 2016 год
Особенностиперестройки дефектнойструктурыэпитаксиальных пленокCeO[2] иLa[2]Zr[2]O[7] впеременном магнитномполе Чибирова Ф. Х.Котина Г. В.Бовина Е. А.2014 год

Особенности перестройки дефектной структуры эпитаксиальных пленок CeO[2] и La[2]Zr[2]O[7] в…

  • Чибирова Ф. Х. и др.
  • 2014 год
Применение методаРитвельда при фазовоманализе продуктовсинтезадикальцийфосфата длякостных цементов Сиротинкин В. П.Федотов А. Ю.Шамрай В. Ф.2014 год

Применение метода Ритвельда при фазовом анализе продуктов синтеза дикальцийфосфата для костных…

  • Сиротинкин В. П. и др.
  • 2014 год
Структура и свойствамонокристаллическихпленок феррошпинелей Великанова Ю. В.Виноградова М. Р.Косарева Е. А.2019 год

Структура и свойства монокристаллических пленок феррошпинелей

  • Великанова Ю. В. и др.
  • 2019 год
Ориентированнаякристаллизациятолстых пленок Pd—Ruв процессемагнетронногораспыления мишени Иевлев В. М.Максименко А. А.Белоногов Е. К.2015 год

Ориентированная кристаллизация толстых пленок Pd—Ru в процессе магнетронного распыления мишени

  • Иевлев В. М. и др.
  • 2015 год
Способ оценкистабильностимасштабногокоэффициентапросвечивающегоэлектронногомикроскопа Заблоцкий А. В.Авилов А. С.Бодунов Д. С.2013 год

Способ оценки стабильности масштабного коэффициента просвечивающего электронного микроскопа

  • Заблоцкий А. В. и др.
  • 2013 год

Показать ещё