Библиографическое описание:Анисимов, А. А. Повышение пространственной разрешающей способности для рентгеновского микроанализа в сканирующем электронном микроскопе / А. А. Анисимов, А. С. Аронин, Е. А. Першина. - (Исследование структуры и свойств) (Физические методы исследования и контроля). - Текст : непосредственный // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2014. - Т. 80, № 6. - С. 34-36. - Библиогр.: с. 36 (3 назв. ). - ISSN 1028-6861.
Аннотация:Экспериментально изучены возможности использования приставки для рентгеновского микроанализа в традиционном сканирующем микроскопе при анализе элементного состава тонких сечений образцов в геометрии "на отражение".
