Библиографическое описание:Ким, В. А. Количественные показатели структурной организации поликристаллических материалов / В. А. Ким, И. В. Белова, С. В. Золотарева. - (Исследование структуры и свойств) (Физические методы исследования и контроля). - Текст : непосредственный // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2014. - Т. 80, № 4. - С. 43-46. - Библиогр.: с. 46 (8 назв. ). - ISSN 1028-6861.
Аннотация:Описана новая методика исследования микроструктуры, основанная на статистическом анализе изображений. Разработаны количественные показатели интерфейса структурного состояния поликристаллических материалов и методика их определения.
