Библиографическое описание:Определение структурных характеристик нанопорошков вольфрама по профилю одного рентгеновского дифракционного пика по программе WinFit / В. П. Сиротинкин [и др.]. - (Исследование структуры и свойств) (Физические методы исследования и контроля). - Текст : непосредственный // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2014. - Т. 80, № 4. - С. 33-37. - Библиогр.: с. 37 (8 назв. ). - ISSN 1028-6861.
Аннотация:По программе WinFit по профилю одного дифракционного пика определены значения областей когерентного рассеяния и микродеформаций для порошков вольфрама, полученных плазмохимическим синтезом и методом водородного восстановления из вольфрамовой кислоты.
