Диагностика выходныхпараметров процессарезания в режимереального времени наоснове фрактальногоанализа ивейвлет-анализа сиспользованиемпрограммно… Кабалдин Ю. Г.Лаптев И. Л.Шатагин Д. А.2014 год

Диагностика выходных параметров процесса резания в режиме реального времени на основе фрактального анализа и вейвлет-анализа с использованием программно-аппаратных средств National Instruments и Nvidia CUDA
статья из журнала