Библиографическое описание:Анисимов, В. Г. Способ измерения толщины диэлектрических покрытий на проводящем основании с использованием диэлектрического резонатора / В. Г. Анисимов, А. Г. Ташлинский. - (Математическое моделирование инфокоммуникационных систем). - Текст : непосредственный // Радиотехника. - 2019. - Т. 83, № 9(14). - С. 78-82. - Библиогр.: с. 82 (12 назв.). - ISSN 0033-8486.
Аннотация:Цель работы предложить способ измерения толщины диэлектрических покрытий на проводящем основании, направленный на повышение точности измерения для тонких покрытий с низкой диэлектрической проницаемостью.
