Библиографическое описание:Исследование локализованных состояний в барьерных структурах элементов электроники на основе аморфного гидрированного кремния / С. П. Вихров [и др.]. - (Научные достижения Рязанского государственного радиотехнического университета (РГРТУ)). - Текст : непосредственный // Радиотехника. - 2017. - № 5. - С. 186-191. - Библиогр.: с. 192 (11 назв.). - ISSN 0033-8486.
Аннотация:Рассмотрены возможности токовой релаксационной спектроскопии глубоких уровней и метода компенсации тока нестационарной фотопроводимости.
