Использование волноводно-диэлектрического резонанса для измерения параметров структуры "нанометровая металлическая пленка-диэлектрик"статья из журнала
Похожие документы
Измерение параметров диэлектриков с использованием СВЧ-коаксиальной брэгговской структуры
- Усанов Д. А. и др.
- 2019 год
Методы радиолокационного измерения толщин диэлектрических слоев
- Андриянов Александр Владимирович
- 2014 год
Неразрушающий метод измерения параметров диэлектрика ламинированных пластин
- Белов Ю. Г. и др.
- 2021 год
Резонаторное микроволновое устройство для измерения физических параметров диэлектрического листового материала
- Совлуков Александр Сергеевич
- 2015 год