Стенд для оперативной проверки БТИЗ и МОП-транзисторовстатья из журнала 12+
Похожие публикации
Сравнение средних по времени потерь мощности в биполярных транзисторах с изолированным затвором и…
- Кюрегян А. С. и др.
- 2017 год
Исследование скорости радиационной деградации кремниевых и SiGe биполярных транзисторов
- Фелицын Владислав Александрович и др.
- 2016 год
Исследование поверхностного дефектообразования в МОП-транзисторе с p-каналом при длительном…
- Петухов Кирилл Алексеевич и др.
- 2018 год