Библиографическое описание:Рычихин, С. . Стенд для оперативной проверки БТИЗ и МОП-транзисторов / С. Рычихин. - (Измерения). - Текст : непосредственный // Радио. - 2024. - № 2. - С. 34-36 : 3 схемы, фот. - Примеч. в сносках.
Аннотация:Биполярный транзистор с изолированным затвором (БТИЗ-IGBT) в настоящее время широко применяется в различной радиоэлектронной аппаратуре, в первую очередь, в силовой полупроводниковой технике. БТИЗ представляет собой гибрид полевого и биполярного транзисторов. Проверка БТИЗ (IGBT) на исправность с помощью мультиметра не дает однозначного результата ввиду особенностей его строения. Поскольку отпирающее напряжение на затворе, как правило, превышает несколько вольт, для проверки на исправность БТИЗ (IGBT) был изготовлен специальный стенд. Схема представлена.
