Определение размеров наноструктурных элементов в гранулированных композиционных пленках проводник-диэлектрик: расчет и атомная силовая микроскопиястатья из журнала
Похожие публикации
Влияние условий формирования гранулированных толстых пленок на основе дисперсного Co[3]B на их…
- Рудь Б. М. и др.
- 2017 год
Электропроводящие композиционные материалы на основе термостойкого фторсодержащего полиамида и…
- Паустовский А. В. и др.
- 2016 год
Получение гранулированного релита методом высокоскоростного электронно-лучевого испарения
- Гречанюк Н. И. и др.
- 2019 год
Влияние материала токопроводящих контактов на электрические свойства толстых пленок на основе…
- Гончар А. Г. и др.
- 2015 год
Исследование наночастиц серебра и меди методом электронной и атомно-силовой микроскопии
- Кистерская Л. Д. и др.
- 2019 год
Вiдносна густина та електричнi властивостi AlN iз добавками залежно вiд складу шихти i…
- Броднiковська I. В. и др.
- 2014 год
Возможности атомно-силовой микроскопии для исследования микроструктуры нержавеющей стали при…
- Шляхова Г. В. и др.
- 2017 год
О возможностях атомно-силовой микроскопии в металлографии углеродистых сталей
- Зуев Л. Б. и др.
- 2014 год
Магнетизм на острие иглы. Основы атомно-силовой и магнитно-силовой микроскопии
- Моргунов Р. Б. и др.
- 2018 год
Анализ качества внешнего вида силикатных покрытий методом атомно-силовой микроскопии
- Логанина Валентина Ивановна и др.
- 2018 год
Особенности адсорбции бутилового ксантогената калия на галените и халькопирите по данным атомно…
- Чантурия В. А. и др.
- 2021 год
Исследование бейнитной структуры в стали 25Г2С2Н2МА методом атомной силовой микроскопии
- Юдин Ю. В. и др.
- 2018 год
Исследование рельефа поверхности полупроводниковой hemt-структуры методом атомно-силовой микроскопии
- Волкова Е. В. и др.
- 2014 год
