Библиографическое описание:Методика количественного рентгеноспектрального микроанализа с учетом матричных эффектов / Н. Н. Михеев [и др.]. - (Методы исследования свойств материалов). - Текст : непосредственный // Перспективные материалы. - 2014. - № 2. - С. 77-82 : 2 табл., 3 рис. - Библиогр.: с. 81 (17 назв. ). - ISSN 1028-978Х.
Аннотация:Рассмотрены возможности корректного использования матричных поправок на поглощение анализируемого рентгеновского характеристического излучения, тормозную способность мишени и обратное рассеяние первичных электронов пучка при решении прямой задачи количественного рентгеноспектрального микроанализа.
