Библиографическое описание:Электронно-микроскопические исследования приповерхностных слоев композиционной керамики системы ZrO2](Y) - Al[2]O[3] модифицированных сильноточным пучком низкоэнергетических электронов / А. П. Суржиков [и др.]. - (Новые технологии получения и обработки материалов). - Текст : непосредственный // Перспективные материалы. - 2014. - № 1. - С. 55-59 : 3 рис. - Библиогр.: с. 58 (5 назв. ). - ISSN 1028-978Х.
Аннотация:Методом сканирующей электронной микроскопии (СЭМ) изучено действие сильноточного импульсного пучка низкоэнергетических электронов (СИПНЭ) на структурное состояние приповерхностных слоев композиционной керамики системы ZrO[2] (Y) - Al[2]O[3] с различным уровнем пористости. Показано, что электронная обработка приводит к плавлению и последующей кристаллизации приповерхностного слоя керамики толщиной 30 - 40 мкм. Проведен СЭМ анализ микроструктуры поверхности и поперечного сечения модифицированных электронным пучком слоев керамических образцов.
