Метод бесконтактныхизмеренийэлектромагнитныхпараметров тонкихпленок инаноматериалов Скворцов Б. В.Борминский С. А.Солнцева А. В.2016 год

Метод бесконтактных измерений электромагнитных параметров тонких пленок и наноматериалов
статья из журнала

Похожие публикации

  • Секацкий Виктор Степанович и др.
  • 2017 год

Показать ещё