Библиографическое описание:Скворцов, Б. В. Метод бесконтактных измерений электромагнитных параметров тонких пленок и наноматериалов / Б. В. Скворцов, С. А. Борминский, А. В. Солнцева. - (Электромагнитные измерения). - Текст : непосредственный // Метрология. - 2016. - № 2. - С. 27-40. - Библиогр.: с. 39-40 (8 назв.). - ISSN 0132-4713.
Аннотация:Разработан метод, основанный на электромагнитном зондировании поверхности, дано математическое описание процедуры измерений.
