Библиографическое описание:Кузнецова, В. А. Метод ускоренных испытаний сохраняемости танталовых оксидно-полупроводниковых чип-конденсаторов / В. А. Кузнецова, В. В. Муравьев. - Текст : непосредственный // Контроль. Диагностика. - 2016. - № 7. - С. 57-60. - Библиогр.: с. 60 (6 назв. ). - ISSN 0201-7032.
Аннотация:Разработан метод ускоренных испытаний танталовых чип-конденсаторов на сохраняемость с помощью воздействия повышенной температуры среды без приложения электрической нагрузки. Результаты ускоренных испытаний соответствуют реальным изменениям параметров конденсаторов в условиях отапливаемого хранилища.
