Библиографическое описание:Клюев, В. В. Неразрушающий контроль Китая на выставках в Москве / В. В. Клюев, Б. В. Артемьев, В. И. Матвеев. - Текст : непосредственный // Контроль. Диагностика. - 2016. - № 6. - С. 11-20. - Библиогр.: с. 20 (2 назв. ). - ISSN 0201-7032.
Аннотация:Кратко изложены результаты анализа материалов российских и международных выставок и конференций, прошедших на территории Москвы (Россия) в 2015 - 2016 гг. Акцент в освещении экспонировавшегося оборудования сделан на инновационных приборах, системах и средствах неразрушающего контроля и технической диагностики.
