Библиографическое описание:Булаев, И. Ю. Применение метода критического напряжения питания для отбраковки потенциально ненадежных микросхем / И. Ю. Булаев. - Текст : непосредственный // Контроль. Диагностика. - 2015. - № 4. - С. 56-60. - Библиогр.: с. 60 (2 назв. ). - ISSN 0201-7032.
Аннотация:Внутренние дефекты современных микросхем иногда невозможно обнаружить с помощью обычного функционального или параметрического контроля. Рассматриваются различные методы диагностического неразрушающего контроля, приводятся их достоинства и недостатки. Описан метод критического напряжения питания для поиска скрытых дефектов внутри современных микросхем.
