Библиографическое описание:Жарков, С. М. Методы современной просвечивающей электронной микроскопии в исследовании материалов = Methods of Modern Transmission Electron Microscopy in Material Study / С. М. Жарков. - Текст : непосредственный // Журнал Сибирского федерального университета. Химия. - 2009. - Т. 2, № 4. - С. 294-306. - Библиогр.: с. 305-306 (19 назв.). - ISSN 1998-2836.
Аннотация:На примере различных материалов: тонких пленок Al/Au, наночастиц Pd-Au, углеродных нанотрубок, фотонного кристалла показаны возможности современной просвечивающей электронной микроскопии в исследовании микроструктуры.
