Библиографическое описание:Магнитооптический эффект Фарадея в пленках Ni-Ge: зависимость от толщины слоев Ge и режима отжига = The Magnetooptical Faraday Effect in Ni-Ge Films: the Dependence on the Ge Layers Thickness and the Annealing Regime / А. В. Черниченко, Д. А. Марущенко, И. А. Турпанов [и др.]. - Текст : непосредственный // Журнал Сибирского федерального университета. Математика и физика. - 2009. - Т. 2, № 3. - С. 376-383. - Библиогр.: с. 382. - ISSN 1997-1397.
Аннотация:Экспериментально исследованы магнитооптический эффект Фарадея (ЭФ) в двухслойных и многослойных пленках Ni-Ge и его изменения при ступенчатом отжиге, а также морфология поверхности пленок. Обнаружены обратно пропорциональная линейная зависимость ЭФ от толщины промежуточного слоя Ge в многослойных пленках и резкое уменьшение поля магнитного насыщения в них по сравнению с двухслойными пленками Ni-Ge.
