1. Главная
  2. Ресурсы
  3. Библиотечный поиск
  4. Журнал «Измерительная техника»
  5. Выпуск 2014 г. № 6
Новый метод измеренийкомплексныхпараметровсверхвысокочастотныхсмесителей Коротков К. С.Фролов Д. Р.2014 год

Новый метод измерений комплексных параметров сверхвысокочастотных смесителей
статья из журнала

Заказать копию статьи
База данных: Каталог библиотеки СФУ
Библиографическое описание: Коротков, К. С. Новый метод измерений комплексных параметров сверхвысокочастотных смесителей / К. С. Коротков, Д. Р. Фролов. - (Радиотехнические измерения). - Текст : непосредственный // Измерительная техника. - 2014. - № 6. - С. 54-57 : ил. - Библиогр.: с. 57 (8 назв.). - Аннотация, ключевые слова на русском и английском языках. - ISSN 0368-1025.
Аннотация: Разработан метод измерения комплексных коэффициентов передачи и отражения частотно-преобразующих устройств, основанный на применении векторного анализатора цепей. Проведен подробный теоретический анализ метода.
Год издания: 2014
Авторы: Коротков К. С. , Фролов Д. Р.
Источник: Измерительная техника
Выпуск: № 6
Номера страниц: 54-57
Количество экземпляров:
  • Абонемент научной литературы (пр. Свободный, 79, Б1-14): свободно 1 из 1 экземпляров

Похожие публикации

Анализ и синтезметодов измеренияS-параметровсверхвысокочастотныхтранзисторов Савелькаев С. В.Литовченко В. А.2018 год

Анализ и синтез методов измерения S-параметров сверхвысокочастотных транзисторов

  • Савелькаев С. В. и др.
  • 2018 год
Обзор методовизмеренияS-параметровтранзисторов СВЧ и ихсравнительный анализ Савелькаев С. В.2018 год

Обзор методов измерения S-параметров транзисторов СВЧ и их сравнительный анализ

  • Савелькаев С. В.
  • 2018 год
Анализ методаизмеренияS-параметровтранзисторов СВЧ Рясный Ю. В.Чашков М. С.Борисов А. В.2012 год

Анализ метода измерения S-параметров транзисторов СВЧ

  • Рясный Ю. В. и др.
  • 2012 год
Метод оценкикоэффициентаотражениярадиопоглощающихполимерныхкомпозиционныхматериалов Шульдешов Е. М.Лепешкин В. В.Романов А. М.2015 год

Метод оценки коэффициента отражения радиопоглощающих полимерных композиционных материалов

  • Шульдешов Е. М. и др.
  • 2015 год
Применение векторногоанализатора цепей дляизмерений параметровСВЧ pin-диодов Селезнев Б. И.Гудков Г. В.Штро А. В.2013 год

Применение векторного анализатора цепей для измерений параметров СВЧ pin-диодов

  • Селезнев Б. И. и др.
  • 2013 год
Пассивные элементысверхвысокочастотныхинтегральных схем(СВЧ ИС) на алмазе Афанасьев М. С.Бугаев А. С.Захарченко К. В.2013 год

Пассивные элементы сверхвысокочастотных интегральных схем (СВЧ ИС) на алмазе

  • Афанасьев М. С. и др.
  • 2013 год
Теоретические основыпостроенияимитатора-анализатораактивных СВЧ-цепей Савелькаев С. В.Ромасько С. В.Литовченко В. А.2017 год

Теоретические основы построения имитатора-анализатора активных СВЧ-цепей

  • Савелькаев С. В. и др.
  • 2017 год
Метод определенияблизких к единицекоэффициентовэллиптичностиантенно-фидерныхустройств Кирилюк С. Д.2021 год

Метод определения близких к единице коэффициентов эллиптичности антенно-фидерных устройств

  • Кирилюк С. Д.
  • 2021 год

Показать ещё

Технические средствадля измеренийпараметров полосковыхСВЧ-устройств Евсеев Владимир ИвановичЛебедева ЕкатеринаАлександровнаНикулин Сергей Михайлович2016 год

Технические средства для измерений параметров полосковых СВЧ-устройств

  • Евсеев Владимир Иванович и др.
  • 2016 год
Методы измеренияпараметров излученияимпульсных линееклазерных диодов наоснове GaAs Гармаш В. М.Воронова К. А.2015 год

Методы измерения параметров излучения импульсных линеек лазерных диодов на основе GaAs

  • Гармаш В. М. и др.
  • 2015 год
ИзмерениеS-параметровСВЧ-транзистора привысоких уровняхмощности методомпространственноудаленной нагрузки Никулин Сергей МихайловичТоргованов Алексей Игоревич2015 год

Измерение S-параметров СВЧ-транзистора при высоких уровнях мощности методом пространственно…

  • Никулин Сергей Михайлович и др.
  • 2015 год
Новый методградуировки сопел длярасходомерных газовыхустановок Гуткин М. Б.Чистяков Ю. А.2013 год

Новый метод градуировки сопел для расходомерных газовых установок

  • Гуткин М. Б. и др.
  • 2013 год
Метод расчетанеопределенностиоценок детализирующихкоэффициентоввейвлет-преобразования профиля яркостиизображения Глухова Н. В.2020 год

Метод расчета неопределенности оценок детализирующих коэффициентов вейвлет-преобразования профиля…

  • Глухова Н. В.
  • 2020 год
Определениекомплексныхкоэффициентовзамедления иотражения при анализеволновых процессов вСВЧ-приборах с… Елизаров А. А.2013 год

Определение комплексных коэффициентов замедления и отражения при анализе волновых процессов в СВЧ…

  • Елизаров А. А.
  • 2013 год
Исследование методаизмерения параметровемкостных датчиковперемещения Мелентьев В. С.Батищев В. И.Евстифеева Т. С.2014 год

Исследование метода измерения параметров емкостных датчиков перемещения

  • Мелентьев В. С. и др.
  • 2014 год
Современныекоаксиальныекалибраторы мощностиСВЧ в диапазонечастот до 50 ГГц Чирков И. П.2014 год

Современные коаксиальные калибраторы мощности СВЧ в диапазоне частот до 50 ГГц

  • Чирков И. П.
  • 2014 год