Библиографическое описание:Влияние фокусировки на латеральное разрешение интерференционного микроскопа / Г. Г. Левин [и др.]. - (Оптико-физические измерения). - Текст : непосредственный // Измерительная техника. - 2014. - № 1. - С. 45-48 : ил. - Библиогр.: с. 48 (5 назв.). - Аннотация, ключевые слова на русском и английском языках. - ISSN 0368-1025.
Аннотация:Проанализирована зависимость латерального разрешения интерференционного микроскопа от расстояния между фазовой ступенькой и плоскостью фокуса объектива предметного канала микроскопа. Проведено сравнение результатов измерений на нескольких длинах волн, полученных методом численного моделирования в широком диапазоне высот фазовой ступеньки и путем обработки реальных фазовых изображений.
