Измерительная техника : научно-технический журнал. 2011 г. № 12выпуск журнала/газеты
Статьи выпуска
- М. В. Ломоносов и метрология. — С. 3-6В. В. Окрепилов
- Государственный первичный специальный эталон единицы импульсного электрического напряжения с длительностью импульса 4х10 [-11] - 1х10 [-5] c. — С. 6-12В. З. Маневич, Л. Н. Селин
- Государственный первичный эталон единицы напряженности магнитного поля в диапазоне частот 0, 01 — 30 МГц. — С. 12-17В. И. Лукьянов, Р. Н. Перепелкина, В. А. Тищенко
- Измерительные задачи статистической идентификации шкалы космологических расстояний. — С. 17-22С. Ф. Левин
- Рациональное кодирование информации для обнаружения ошибок в устройствах хранения и передачи информации измерительной техники. — С. 22-25К. Ю. Борисов [и др. ]
- Использование математического моделирования для измерений наноразмеров в микроэлектронике. — С. 25-29А. В. Никитин
- Оптимизация фотоэлектрических измерительных систем. — С. 29-32Ю. Б. Коляда [и др. ]
- Совместные диофантовы приближения и анализ точности многоволновых интерферометров. — С. 32-37А. В. Забелин
- Корреляционные методы преобразования оптического излучения в дистанционных виброметрах. — С. 37-41В. Д. Мочалин
- Анализ погрешности измерения поля максимальной магнитной проницаемости сталей. — С. 41-45С. Г. Сандомирский
- Выбор эталона для определения нуклеотидных последовательностей молекул ДНК. — С. 45-48С. С. Голубев [и др. ]
- Дозовые характеристики препарата "Радахлорин" при моделировании фотодинамического эффекта на клеточном уровне. — С. 48-54Л. В. Жорина [и др. ]
- Зондовая спектроскопия комбинационного рассеяния в контроле электродеградации тонкопленочных проводников. — С. 54-58В. А. Котенев, А. Ю. Цивадзе
- Требования к компетентности юридических лиц и индивидуальных предпринимателей, аккредитуемых на проведение работ по аттестации методик измерений, применяемых при аналитическом контроле. — С. 58-61Ю. С. Бессонов, Н. В. Тоболкина
- Проверка квалификации аналитических лабораторий путем межлабораторных сравнительных испытаний — важный элемент обеспечения единства измерений. — С. 58-61О. Б. Пономарева, С. В. Шпаков