1. Главная
  2. Ресурсы
  3. Библиотечный поиск
  4. Журнал «Известия высших учебных заведений. Химия и химическая технология»
  5. Выпуск 2014 г. Том 57. № 2
Определениестехиометрии итолщиныионно-синтезированныхоксидных наноструктурвольфрама мотодомрентгеновскойфотоэлектроннойспектроскопии Лазов М. А.Алов Н. В.Ищенко А. А.2014 год

Определение стехиометрии и толщины ионно-синтезированных оксидных наноструктур вольфрама мотодом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
статья из журнала

Заказать копию статьи
База данных: Каталог библиотеки СФУ
Библиографическое описание: Лазов, М. А. Определение стехиометрии и толщины ионно-синтезированных оксидных наноструктур вольфрама мотодом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии / М. А. Лазов, Н. В. Алов, А. А. Ищенко. - (Химия). - Текст : непосредственный // Известия вузов. Химия и химическая технология. - 2014. - Т. 57, вып. 2. - С. 25-29 : 3 рис., 1 табл. - Библиогр.: с. 29 (21 назв.). - ISSN 0579-2991.
Аннотация: При окислении вольфрама O[2]{+}, анализ рентгеновских фотоэлектронных спектров показал наличие оксидных форм W (IV), W (V), W (VI), которые были заданы в виде гомогенных слоев. Проведена деконволюция серии спектров окисления вольфрама с учетом линии малой интенсивности W 5р3/2 для повышения качества аппроксимации сложных спектров линии W 4F. Определены дозовые зависимости концентраций оксидов, вычислены толщины оксидных слоев, средняя степень окисления вольфрама и стехиометрия в окислительном слое и на всей анализируемой толщине образца.
Год издания: 2014
Авторы: Лазов М. А. , Алов Н. В. , Ищенко А. А.
Источник: Известия вузов. Химия и химическая технология
Выпуск: Т. 57, вып. 2
Номера страниц: 25-29
Количество экземпляров:
  • Абонемент научной литературы (пр. Свободный, 79, Б1-14): свободно 1 из 1 экземпляров

Похожие публикации

Рентгеновскаяфотоэлектроннаяспектроскопияоксидной керамикиBi[2]Ni[1/2]Co[1/2]Na[2]O[9+- дельта] Паршукова К. Н.Некипелов С. В.Жук Н. А.2024 год

Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия оксидной керамики Bi[2]Ni[1/2]Co[1/2]Na[2]O[9+- дельта]

  • Паршукова К. Н. и др.
  • 2024 год
Определениехимического составананокремния методомрентгеновскойфотоэлектроннойспектроскопии Лазов М. А.Алов Н. В.Ионов А. М.2015 год

Определение химического состава нанокремния методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии

  • Лазов М. А. и др.
  • 2015 год

Электрохимическое поведение палладийсодержащих наночастиц на углеродном электроде в солянокислых…

  • Романченко А. С. и др.
  • 2019 год

Поиск оптимальных условий синтеза и характеризация перспективного нанофлотореагента

  • Сайкова Д. И. и др.
  • 2018 год

Синтез и характеризация наночастиц дибутилдитиофосфата свинца

  • Сайкова С. В. и др.
  • 2021 год

Особенности электрохимического поведения синтетических валлериитов, модифицированных никелем.

  • Лихацкий М. Н. и др.
  • 2024 год
Модификацияповерхностидвустенных углеродныхнанотрубок фуллереномС[60] Караева Аида РазимовнаЖукова Екатерина АлександровнаУрванов Сергей Алексеевич2016 год

Модификация поверхности двустенных углеродных нанотрубок фуллереном С[60]

  • Караева Аида Разимовна и др.
  • 2016 год
Исследование кинетикиобразования ирастворения оксидныхслоев на олове,свинце и их сплавах впроцессе их… Рублинецкая Ю. В.Гукин А. Е.Слепушкин В. В.2014 год

Исследование кинетики образования и растворения оксидных слоев на олове, свинце и их сплавах в…

  • Рублинецкая Ю. В. и др.
  • 2014 год

Показать ещё

Изучение иммобилизованных продуктов сульфидного восстановления тетрахлораурат-ионов

  • Михлин Ю. Л. и др.
  • 2008 год
Методы определениятрещиностойкоститонких алмазоподобныхпокрытий алмазныминдикатором Кравчук К. С.Усеинов А. С.2014 год

Методы определения трещиностойкости тонких алмазоподобных покрытий алмазным индикатором

  • Кравчук К. С. и др.
  • 2014 год
Исследованиевозможностииспользования силовойспектроскопии дляопределениямеханохимическихсвойств тонкихпокрытий Маслеников И. И.Усеинов А. С.2014 год

Исследование возможности использования силовой спектроскопии для определения механохимических…

  • Маслеников И. И. и др.
  • 2014 год
Рентгенодифракционныйметод определенияразмеров иструктурныххарактеристикнанографитов вактивированныхуглеродных… Саенко Никита СергеевичЗиатдинов Альберт Муктасимович2016 год

Рентгенодифракционный метод определения размеров и структурных характеристик нанографитов в…

  • Саенко Никита Сергеевич и др.
  • 2016 год
Влияниеэлектрического поляна адгезию иструктуру проводящихпленок, нанесенных надиэлектрическиеподложки Пщелко Николай СергеевичВодкайло Екатерина ГабриеловнаТомаев Владимир Владимировоч2017 год

Влияние электрического поля на адгезию и структуру проводящих пленок, нанесенных на…

  • Пщелко Николай Сергеевич и др.
  • 2017 год

Investigation of the Structural, Optical, and Electrical Properties of Ni-Doped SnO[2]- Thin…

  • Aoun Ya. и др.
  • 2026 год
Диэлектрическаяспектроскопияполистирольныхпленок,модифицированныхфуллеренами Носков А. В.Алексеева О. В.Краев А. С.2013 год

Диэлектрическая спектроскопия полистирольных пленок, модифицированных фуллеренами

  • Носков А. В. и др.
  • 2013 год
Электрохимическоеформированиенаноструктур: тонкиепленки висмута Баканов В. И.Ларина Н. В.2012 год

Электрохимическое формирование наноструктур: тонкие пленки висмута

  • Баканов В. И. и др.
  • 2012 год