Экспресс-методика измерения параметров технологических электронных пучков

Щербаков А. В.; Гончаров А. Л.; Кожеченко А. С.; Погребисский М. Я.; Рубцов В. П.; Драгунов В. К.

База данных: Каталог библиотеки СФУ

Библиографическое описание: Экспресс-методика измерения параметров технологических электронных пучков / А. В. Щербаков [и др.]. - Текст : непосредственный // Электротехника. - 2016. - № 8. - С. 62-67. - ISSN 0013-5860.

Аннотация: Предложена экспресс-методика прямого измерения распределения плотности тока аксиально-симметричных электронных пучков. Показано, что применение методики актуально для повышения воспроизводимости результатов электронно-лучевой обработки. Выполнен сравнительный анализ существующих методов измерения параметров электронных пучков, применяемых в технологических целях. Разработаны методика восстановления радиального распределения плотности тока электронного пучка и устройство для ее реализации. Проведен анализ результатов восстановления радиального распределения для случая, когда исходное распределение задано в виде модельной функции нормального распределения. Разработан алгоритм определения размеров расчетной области, в пределах которой осуществляется дискретизация пространственного распределения. На основании анализа результатов экспериментальных зависимостей показано, что предложенный численный метод применим для любых типов аксиально-симметричных распределений. Проанализирована природа погрешностей, возникающих при восстановлении функций распределения, и дан прогноз развития систем экспресс-диагностики технологических электронных пучков с учетом характеристик существующей компонентной базы.

Год издания: 2016

Авторы: Щербаков А. В. , Гончаров А. Л. , Кожеченко А. С. , Погребисский М. Я. , Рубцов В. П. , Драгунов В. К.

Источник: Электротехника

Выпуск: № 8

Номера страниц: 62-67

Количество экземпляров:

Читальный зал (пер. Вузовский, 6Д): свободно 1 из 1 экземпляров

Показать дополнительные сведения

Сверхбыстрая электронная дифракция и электронная микроскопия: современное состояние и перспективы

Ищенко А. А. и др.
2014 год

Термодинамические свойства SrAl[2]Si[2]O[8]

Денисова Л. Т. и др.
2022 год

СЭМ-ЭДС-исследование взаимосвязи состава и строения стеклокристаллической оболочки ценосфер энергетических зол

Роговенко Е. С. и др.
2022 год

Особенности моделирования процесса послойного синтеза изделий с помощью электронного луча

Соколов Ю. А.
2013 год

Проектирование и численное моделирование миниатюрного электронного прожектора

Тарабрин Д. Ю. и др.
2016 год

Применение сканирующей электронной микроскопии в решении актуальных проблем материаловедения

Зеер Г. М. и др.
2009 год

Способ оценки стабильности масштабного коэффициента просвечивающего электронного микроскопа

Заблоцкий А. В. и др.
2013 год

Методы современной просвечивающей электронной микроскопии в исследовании материалов

Жарков С. М.
2009 год

Влияние типа нейтрального газа на режим генерации в релятивистском электронном потоке

Башкирев А. М. и др.
2017 год

Методика определения технологических параметров электронных пучков в сварочных электронных пушках

Гончаров А. Л. и др.
2015 год

Исследование движения расплавленной гранулы по поверхности формируемого изделия в процессе электронно-лучевого синтеза изделий

Кондратьев С. Ю. и др.
2014 год

Длиннофокусный осесимметричный гиперболоидный энергоанализатор заряженных частиц

Гуров В. С. и др.
2016 год

Библиотечно-издательский комплекс СФУ

Экспресс-методика измерения параметров технологических электронных пучков
статья из журнала

Похожие документы