Библиографическое описание:Козлов, В. И. Исследование неоднородности тонкопленочной структуры при помощи ферромагнитного резонанса / В. И. Козлов. - Текст : непосредственный // Электротехника. - 2014. - № 5. - С. 64-66. - ISSN 0013-5860.
Аннотация:Линейные размеры тонкопленочных структур, используемых в различных устройствах микроэлектроники, достигают десятков миллиметров. При этом существенным фактором становится однородность структур по площади. Ферромагнитный резонанс как физический эффект, параметры сигнала которого связаны со многими физическими характеристиками объекта исследования (намагниченностью, константами анизотропии и др. ), позволяет создать весьма удобный метод определения этих характеристик в разных участках объекта исследования.
