Полупроводники: у облученного кремния увеличился диаметрстатья из журнала
Похожие публикации
Измерение коэффициента Холла и электропроводности полупроводников зондовым методом
- Поляков Н. Н. и др.
- 2014 год
Изучение поверхностных электронных состояний в полупроводниках посредством холодной эмиссии в…
- Мандель А. М. и др.
- 2013 год
Измерение диэлектрической проницаемости диоксида кремния при нагреве в высокотемпературном…
- Крылов В. П. и др.
- 2016 год
Терагерцовая фотопроводимость и нетривиальные локальные электронные состояния в легированных…
- Рябова Л. И. и др.
- 2014 год
