Библиографическое описание:Шуренков, Владимир Васильевич. Механизмы деградации полупроводниковых систем под действием электромагнитного импульса / Шуренков Владимир Васильевич. - (Национальному исследовательскому ядерному университету "МИФИ" - 75 лет). - Текст : непосредственный // Датчики и системы. - 2018. - № 2. - С. 47-52 : ил. - Библиогр.: с. 52 (16 назв.). - Заглавие, аннотация, ключевые слова на русском и английском языках. - ISSN 1992-7185.
Аннотация:Рассмотрены экспериментальные методы исследования воздействия импульсного электромагнитного излучения (ЭМИ) на полупроводниковые электронные системы. Анализируются физические эффекты деградации полупроводниковых систем под действием импульсного ЭМИ.
Ключевые слова:деградация полупроводниковых систем, импульсное электромагнитное излучение, источники электромагнитного излучения, полупроводниковые системы, электромагнитное излучение, электромагнитные импульсы, электронные системы
