Влияние отжига на характеристики биполярных транзисторов как чувствительных элементов датчиков поглощенной дозыстатья из журнала
Похожие публикации
Цифровой датчик поглощенной зоны на основе коммерческого МОП-транзистора
- Бакеренков Александр Сергеевич и др.
- 2018 год
Моделирование чувствительного элемента датчика давления на основе биполярного тензотранзистора
- Басов Михаил Викторович и др.
- 2017 год
Методика моделирования радиационной чувствительности МДП-транзисторных элементов датчиков
- Подлепецкий Борис Иванович и др.
- 2016 год
МДП-транзистор как первичный преобразователь дозы ионизирующего излучения
- Подлепецкий Борис Иванович и др.
- 2018 год
Моделирование радиационной чувствительности датчиков водорода с МДП-транзисторными элементами
- Подлепецкий Борис Иванович
- 2015 год
Организация входного контроля чувствительных элементов микромеханических датчиков на пластине
- Якимова Анна Васильевна и др.
- 2017 год
Исследование скорости радиационной деградации кремниевых и SiGe биполярных транзисторов
- Фелицын Владислав Александрович и др.
- 2016 год
Моделирование характеристик интегральных датчиков водорода с МДП-транзисторными чувствительными…
- Подлепецкий Борис Иванович
- 2014 год
Влияние температуры МДП-транзисторных чувствительных элементов на характеристики датчиков водорода
- Подлепецкий Борис Иванович и др.
- 2015 год
Теплоизолирующие свойства диэлектрических мембранных конструкций чувствительных элементов…
- Веселов Денис Сергеевич и др.
- 2016 год
Волоконно-оптический датчик магнитного поля и электрического тока с миниатюрным чувствительным…
- Потапов Тимофей Владимирович и др.
- 2017 год
Чувствительные элементы на основе резонатора на ПАВ для датчиков температуры с термометрической…
- Крышталь Раиса Григорьевна и др.
- 2014 год
Изготовление МЭМС-структур чувствительных элементов датчиков концентрации газа с применением…
- Веселов Денис Сергеевич и др.
- 2015 год
Влияние параметров чувствительного элемента магнитожидкостного датчика угла наклона на силу подвеса
- Морозова Дарья Юрьевна и др.
- 2015 год
Топологические вероятностные модели БИС для обеспечения информационной надежности электронных…
- Барбашов Вячеслав Михайлович и др.
- 2018 год
Исследование поверхностного дефектообразования в МОП-транзисторе с p-каналом при длительном…
- Петухов Кирилл Алексеевич и др.
- 2018 год