Топологическиевероятностные моделиБИС для обеспеченияинформационнойнадежностиэлектронных системпри воздействиирадиации Барбашов Вячеслав МихайловичТрушкин Николай Сергеевич2018 год

Топологические вероятностные модели БИС для обеспечения информационной надежности электронных систем при воздействии радиации
статья из журнала

Похожие публикации

Показать ещё