Библиографическое описание:Барбашов, Вячеслав Михайлович. Топологические вероятностные модели БИС для обеспечения информационной надежности электронных систем при воздействии радиации / Барбашов Вячеслав Михайлович, Трушкин Николай Сергеевич. - (Национальному исследовательскому ядерному университету "МИФИ" - 75 лет). - Текст : непосредственный // Датчики и системы. - 2018. - № 2. - С. 28-31 : ил. - Библиогр.: с. 31 (12 назв.). - Заглавие, аннотация, ключевые слова на русском и английском языках. - ISSN 1992-7185.
Аннотация:Рассмотрены методы моделирования функциональных отказов цифровых БИС при воздействии радиации, основанные на топологических вероятностных моделях с учетом нечеткой вероятности и зон неопределенности состояния логических элементов. В этом случае реальный характер радиационного поведения сложной электронной системы определяется конкретным соотношением радиационно-чувствительных параметров ее элементов и учетом влияния их статистического разброса.
