Библиографическое описание:Влияние диссипации кинетической энергии колебаний на надежность функционирования балочных микрорезонаторов / Филонов Олег Михайлович [и др.]. - (Представляет Санкт-Петербургский государственный университет аэрокосмического приборостроения). - Текст : непосредственный // Датчики и системы. - 2018. - № 12. - С. 12-16 : ил. - Библиогр.: с. 16 (9 назв.). - Заглавие, аннотация, ключевые слова на русском и английском языках. - ISSN 1992-7185.
Аннотация:Приводятся результаты исследования физических процессов, приводящих к нарушению адгезии пленочных проводников, нанесенных на балки микрорезонаторов, в режиме высокочастотных колебаний. Определена величина критической силы, при которой происходит отслаивание пленки, и соответствующее ей значение критической температуры.
