Библиографическое описание:Петрухин, Борис Петрович. КМДП цифровые (логические) СБИС, подходы к оценке долговечности / Петрухин Борис Петрович. - (Конструирование и производство датчиков, приборов и систем). - Текст : непосредственный // Датчики и системы. - 2018. - № 11. - С. 27-34 : ил. - Библиогр.: с. 34 (9 назв.). - Заглавие, аннотация, ключевые слова на русском и английском языках. - ISSN 1992-7185.
Аннотация:Рассмотрены основные процессы старения в современных КМДП сверхбольших интегральных схемах, влияющих на их долговечность: пробой подзатворного тонкого диэлектрика, увеличение подпорогового тока утечки, изменения параметров металлизации и другие процессы, приводящие к изменению передаточной характеристики вентилей и снижению помехоустойчивости.
