Библиографическое описание:Измерение толщины покрытия в ходе процесса плазменно-электролитического оксидирования по оптическим спектрам / Горбатков Михаил Викторович [и др.]. - (Теория и принципы построения датчиков, приборов и систем). - Текст : непосредственный // Датчики и системы. - 2018. - № 1. - С. 36-39 : ил. - Библиогр.: с. 39 (5 назв.). - Заглавие, аннотация, ключевые слова на русском и английском языках. - ISSN 1992-7185.
Аннотация:Проведено экспериментальное исследование оптических спектров излучения микроразрядов процесса плазменно-электролитического оксидирования алюминия, титана и циркония, выявлены закономерности для разработки нового метода измерения толщины покрытия без вмешательства в технологический процесс. Показаны примеры спектров, приведена функциональная схема устройства измерения толщины покрытия, исследована чувствительность и даны рекомендации по применению метода для различных металлов.
