Библиографическое описание:Петрухин, Борис Петрович. Прогнозирование интенсивности отказов КМДП СБИС по результатам контрольных испытаний / Петрухин Борис Петрович. - (Конструирование и производство датчиков, приборов и систем). - Текст : непосредственный // Датчики и системы. - 2017. - № 6. - С. 25-35 : ил. - Библиогр.: с. 34-35 (15 назв.). - Заглавие, аннотация, ключевые слова на русском и английском языках. - ISSN 1992-7185.
Аннотация:Приведен анализ данных результатов испытаний на безотказность КМДП СБИС, проведенных фирмами ALTERA и XILINX. Получены верхние оценки интенсивностей отказов с доверительной вероятностью 0, 9 для всех видов цифровых наносхем, производимых этими фирмами. Данные результаты можно использовать при расчетах надежности устройств и систем.
