Библиографическое описание:Подлепецкий, Борис Иванович. Методика моделирования радиационной чувствительности МДП-транзисторных элементов датчиков / Подлепецкий Борис Иванович, Бакеренков Александр Сергеевич, Сухорослова Юлия Валерьевна. - (Представляет кафедра микро- и наноэлектроники НИЯУ МИФИ). - Текст : непосредственный // Датчики и системы. - 2016. - № 4. - С. 64-69 : ил. - Библиогр.: с. 69 (11 назв.). - Заглавие, аннотация, ключевые слова на русском и английском языках. - ISSN 1992-7185.
Аннотация:Предложена усовершенствованная методика оценки параметров моделей МДП-транзисторов для прогнозирования радиационной чувствительности датчиков на их основе. Методика позволяет разделить вклады зарядов в диэлектрике и поверхностных состояний с учетом влияния режимов облучения на характеристики транзисторов.
